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品業(yè)展示圖9.25第二版.jpg)
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該設(shè)備主要用于手機(jī)顯示模組及有關(guān)產(chǎn)品的觀察及尺寸測量。將工件放于顯微鏡下，使用不同的物鏡對產(chǎn)品進(jìn)行觀察，對需要測量的位置使用帶光柵的高精密移動平臺結(jié)合數(shù)據(jù)處理軟件進(jìn)行尺寸測量，使用數(shù)字相機(jī)進(jìn)行實(shí)時影像處理、觀察以及拍照，實(shí)現(xiàn)對產(chǎn)品的尺寸以及外觀檢查。
測量顯微鏡結(jié)合了金相顯微鏡的高倍觀察能力，和影像測量儀的X、Y、Z軸表面尺寸測量功能，具備明暗場、微分干涉、偏光等多種觀察功能。
可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、PCB、LCD、手機(jī)產(chǎn)業(yè)鏈、光通訊、基礎(chǔ)電子、模具五金、醫(yī)療器械、汽車行業(yè)、計量行業(yè)等領(lǐng)域的檢測。
覆蓋范圍廣：兼容多種測量和觀察需求
可操作性：操作更簡單、更高效
高度測量：實(shí)現(xiàn)對樣品表面凹凸的高精度測量
測量支持系統(tǒng)：對復(fù)雜形狀也能簡單、高精度地測量
設(shè)備測試參數(shù)：
| 設(shè)備型號 | LB-200 |
| 外形尺寸 | 700*800*800mm |
| 設(shè)備重量 | 85KG |
| 玻璃尺寸 | 230*160mm |
| 載物臺尺寸 | 3580*258mm |
| 行程 | 200*100*150mm |
| 光柵尺分辨率 | Z軸分辨率±0.1um；XY軸±0.5um（可選配±0.1um） |
| 光學(xué)系統(tǒng) | 無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng) |
| 移動方式 | 手動 |
| 物鏡 | 5X，10X，20X，50X |
| 目鏡 | 10X |
| 視野圖像 | 反像 |
| 觀察方法 | 明場/暗場自由切換 |
| 表面光源/底部光源 | 3W/LED同軸光源 |
| XYZ定位精準(zhǔn)度 | ±0.1um |
| XYZ重復(fù)精度 | ±0.1um |
| XY測量精度 | （3+L/100）um，“L”為被測量長度 |
| Z測量精度 | （3+L/25）um，“L”為被測量高度 |
| 數(shù)顯器功能 | RS232輸出，XYZ清零/分中，公英制轉(zhuǎn)換，精度校正 |
| Z軸控制器 | 高精度同軸搖輪控制上下移動 |
| Z軸定位精度 | ±0.1um |
| 工作電壓 | AC220V |
| 額定功率 | 100W |
深圳市博森源電子有限公司
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